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DFT（テスト容易化設計）とは？

DFT（テスト容易化設計）とは、製造後のテストを実施しやすくするために、あらかじめテスト用の構造を回路へ組み込む設計手法。内部フリップフロップを直列につないで外部から値を出し入れするスキャンパス、回路自身がテストを行うBIST（組込み自己テスト）などがある。

でぃーえふてぃー

応用情報技術者試験の頻出用語／テクノロジ系／別名：Design For Testability、DFT、テスト容易化設計

DFT（テスト容易化設計）の意味

製造後のテストを実施しやすくするために、あらかじめテスト用の構造を回路へ組み込む設計手法。内部フリップフロップを直列につないで外部から値を出し入れするスキャンパス、回路自身がテストを行うBIST（組込み自己テスト）などがある。

DFT（テスト容易化設計）の具体例

スキャンパスにより、内部状態を直接設定できるため、テストパターンの生成と故障箇所の特定が容易になる。

DFT（テスト容易化設計）は試験でどう引っ掛けられる？

テスト回路の追加は面積と動作速度のオーバヘッドを伴う。品質とコストのトレードオフになる。

DFT（テスト容易化設計）と関連する用語

最終更新：2026-08-25／解説は資格暗記が独自に作成しています。 過去問の出典は各問題に記載のとおりです。