JTAGとは？

JTAGとは、LSIのピン近傍に直列接続したシフトレジスタ（バウンダリスキャンセル）を通じて、外部から入出力の値を設定・観測できるようにするテスト用インタフェース規格。基板上のはんだ付け不良や配線の断線・短絡を、テスト用の物理的な探針なしに検査できる。近年はチップ内蔵デバッグ機能の操作口としても使われる。

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高度試験・午前I（全区分共通）の頻出用語／午前I（全区分共通）／別名：IEEE 1149.1、バウンダリスキャン

JTAGの意味

LSIのピン近傍に直列接続したシフトレジスタ（バウンダリスキャンセル）を通じて、外部から入出力の値を設定・観測できるようにするテスト用インタフェース規格。基板上のはんだ付け不良や配線の断線・短絡を、テスト用の物理的な探針なしに検査できる。近年はチップ内蔵デバッグ機能の操作口としても使われる。

JTAGの具体例

JTAG経由でCPUのブレークポイント設定、レジスタ・メモリの参照、フラッシュ書込みを行う。

JTAGは試験でどう引っ掛けられる？

本来の目的は基板実装後のテスト（バウンダリスキャンテスト）。デバッグ用途は後から広まった応用。

JTAGと関連する用語

最終更新：2026-08-25／解説は資格暗記が独自に作成しています。過去問の出典は各問題に記載のとおりです。